6西格玛管理中常用的度量指标有：西格玛水平Z、百万机会缺陷数DPMO、单位缺陷数DPU、首次产出率FTY、滚动产出率RTY等，它们覆盖了各种连续型和离散型测量数据的情况。这里我们重点介绍西格玛水平Z和百万机会缺陷数DPMO的统计与计算方法如下：

(一) 西格玛水平Z：

对应于过程输出无偏移的情况，西格玛水平Z是指规格范围（USL-LSL）与2σ的比值，可由式5-6-1求得：

例5-6-1：某送餐公司为某学校送午餐，学校希望在中午12：00送到，但实际总有误差，因而提出送餐的时间限定在11：55分至12：05分之间，即：LSL为11：55分，USL为12：05分。过去一个星期来，该送餐公司将午餐送达的时间为：11：50、11：55、12：00、12：05、12：10，求该公司准时送餐的西格玛水平。

这里，将送达时间按相对于目标值12：00的差值进行变换，记录为-10、-5、0、5、10，则：

用样本标准差S估计总体标准差，得到=S=7.91，将上述参数代入式5-6-1，得：

即该公司准时送餐的西格玛水平仅为0.63。

（二）百万机会缺陷数DPMO（Defects Million Opportunity）

在统计和计算DPMO时，我们先要明确下述概念：

缺陷：是指产品、或服务、或过程的输出没有达到顾客要求或超出规格规定。

缺陷机会数：是指产品、或服务、或过程的输出可能出现缺陷之处的数量，如：一块线路板有200个焊点就有200个出现焊接缺陷机会；一张申请表有15个栏目就有15个出现填表缺陷的机会。

如果我们统计了过程输出的缺陷数和缺陷机会数，我们就可以计算：

机会缺陷率DPO（Defects Per Opportunity），即每次机会中出现缺陷的比率表示了每个样本量中缺陷数占全部机会数的比例。由式5-6-3计算：

例5.6.2 假定这100块电路板中，每一个电路板都含有100个缺陷机会，若在制造这100个电路板时共发现21个缺陷。 则

百万机会缺陷数DPMO（Defects Per Million Opportunity），DPO常以百万机会的缺陷数表示，即DPMO=DPO×106，或由式5-6-4计算：

本例中，0.0021的DPO即为2100的DPMO。

DPMO值可以用来综合度量过程的质量。例如，某印刷电路板的制造工厂在同一条生产线上可能生产不同规格的印刷电路板。每一种产品都有不同的设计，因此，在生产过程中，缺陷机会也不同。但是，不管生产何种规格的产品，都可以统计出现缺陷的数量和缺陷机会的数量，然后用总的缺陷的数量除以总机会数，可以得到DPMO，即使每天的产品种类不同，我们都可以做同样的统计。

在6西格玛管理中常常将DPMO折算为Z。DPMO对应于过程输出质量特性超出规格限的比率，可以通过对如图5-6-3所示的正态分布中规格限外的部分求积分而获得。此时，标准正态分布中的分位数点Z，就是过程的西格玛水平。6西格玛管理中常用的Z换算表如表5.6.1所示。

图5-6-3：缺陷率与过程输出西格玛水平的对应关系

表5.6.1 西格玛值与DPMO对应表（考虑1.5倍偏移时）
　

例5.6.4：某物料清单BOM（Bill of Material）上有4个需要填表之处，均可能会发生填写错误，即该BOM有4个缺陷机会：

假如在1376张物料清单BOM上发现41个缺陷，则其

即每百万个机会中有7449个缺陷。查表可得该填写BOM过程的西格玛水平约为3.95西格玛（考虑1.5倍偏移）。